作为深耕环境可靠性测试设备领域多年的技术型企业，DHT^®（多禾试验）始终以“测控精准、运行稳定、经久耐用”为产品设计原点。在半导体老化测试这一关键领域，DHT^®（多禾试验）旗下的DHT^®.Semi将研发资源聚焦于低速存储芯片的老化测试系统——这是一类市场需求量大、可靠性要求高、且需要长期稳定运行的测试装备。经过产线验证，目前DHT^®.Semi推出的低速存储芯片老化系列产品已形成高度成熟的标准化产品线，并已实现规模化应用。

成熟技术积淀，定义行业测试标杆

低速存储芯片（涵盖DDR3/DDR4/DDR5、LPDDR4/LPDDR5、eMMC、UFS及NAND Flash等）广泛应用于人工智能、云计算、物联网及汽车电子等关键领域，其出厂前的可靠性验证直接决定了终端产品的使用寿命与安全等级。DHT^®.Semi低速存储芯片老化系列产品，正是在这一刚性需求下推出的成熟量产方案。

该系列产品在结构上提供单腔24 slots与双腔48 slots两种核心构型，层间距优化至45mm，可灵活适配国内外主流BIB板卡及系统板，极大降低了产线集成的迁移成本。在核心控温能力上，产品提供了-10℃~150℃、-40℃~150℃及-70℃~150℃三种温区选项，充分满足从商业级到车规级芯片的全温区测试需求。其空载±1℃、满载±3℃的温度均匀度表现，以及高达6.5kW的单机带载能力，为高功耗芯片的长时间动态老化提供了稳定的热场环境。

量产化设计，满足高吞吐量测试需求

针对大规模生产环境，该系列产品专为高吞吐量测试需求优化设计。一个测试工位可同时对数千颗主流芯片进行老化测试，极大提升了产线吞吐量和测试效率。在自动化与智能化生产趋势下，产品还可选配测试板自动插拔机构及自动开关门模组，可无缝对接自动化产线，有效降低人工干预带来的变动。

与此同时，该系列设备搭载DHT自研分量智控技术算法，实现测试过程的精准与稳定控制。优化的能耗比设计助力客户有效控制运营成本，久经考验的硬件平台与温控系统确保了连续作业的稳定性。配备友好的操作界面和标准化测试程序库，极大降低了设备使用门槛和工程师的调试时间，助力客户快速部署、迅速投产。

广泛应用，赋能“芯”基建

凭借高兼容性架构与卓越的性价比，该系列产品已在多个关键行业实现了成熟应用：在存储芯片制造与封测环节，广泛用于GPU、eMMC、UFS、LPDDR、DRAM、NAND Flash等各类存储芯片量产前的可靠性筛选与品质认证；在高端电子设备供应链，为人工智能服务器、云计算数据中心、物联网核心模块的供应商提供高可靠性的芯片筛选方案；在汽车电子领域，满足车规级芯片对极端温度环境适应性和超长寿命的严苛验证需求。

“五年保修”护航，重塑客户持有信心

在半导体设备领域，售后与全生命周期成本正成为客户选型的关键权重。DHT@（多禾试验）基于对自身工业级设计标准与严苛物料选型的信心，为低速存储芯片老化系列产品推出了远超行业惯例的 “五年保修”长期服务承诺。从关键物料选型到整机设计，均以工业级耐久标准进行打造，确保设备能够承受不间断运行的严苛考验。创新的散热风道设计在保障宽温范围内精确控温的同时，实现了更优的能效表现。配合本土化快速响应的技术支持团队，DHT^®.Semi旨在从设备采购的那一刻起，即为客户消除停机焦虑，降低综合持有成本。

随着人工智能加速边缘落地、新能源汽车智能化程度加深，低速存储芯片的用量呈指数级增长，DHT^®.Semi低速存储芯片老化系列产品将以成熟可靠的品质、全面的兼容性以及坚实的长效保障，持续为半导体产业链的稳定与发展注入强劲动力。